Электроника России
 
 

3 марта

Стандарт тестопригодного проектирования микросхем IEEE P1687

В двадцать второй статье цикла «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» рассмотрены основы нового стандарта тестопригодного проектирования микросхем IEEE Р1687.

Статья опубликована в журнале "Производство Электроники" №2 за 2011 год.

Подписка на журнал \"Производство электроники\" на 2012 год
3 000Купить
Подписка на журнал \"Производство электроники\" на 1-ое полугодие 2012 года
1 500Купить
Подписка на журнал \"Производство электроники\" на 2-ое полугодие 2011 года
1 500Купить
Электронная полугодовая подписка на журнал \"Производство электроники\" (доступ к эл. версии на сайте)
1 300Купить
Электронная годовая подписка на журнал \"Производство электроники\" (доступ к эл. версии на сайте)
2 500Купить
Доступ к платным материалам сайта на год
9 700Купить
Доступ к платным материалам сайта на полгода
4 900Купить","zzz"); return false;'>Купить доступ к материалу

Автор: Ами Городецкий, к.т.н., гл. технолог, JTAG.TECT (amigo@jtag-test.ru); Леонид Курилан, ген. директор, JTAG.TECT (leo@jtag-test.ru)

function AddBookmark(url, title) { if (window.sidebar) { // Mozilla Firefox Bookmark window.sidebar.addPanel(title, url, ""); } else if( window.external ) { // IE Favorite window.external.AddFavorite( url, title); } else if(window.opera && window.print) { // Opera Hotlist return true; } } -->
Постоянный адрес материала: http://www.brand-dzerginsk.ru/developer-r/review/2376/doc/56592/
   
--> --> --> -->--> -->
© 2007 Издательский дом Электроника